Семинар в Гданьском политехе посвященный представлению работы Ершова П.”High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on x-ray refractive optics”

Ершов Петр провел семинар в Гданьской политехнике, как начало процедуры подготовки к защите научной диссертации и получения звания PhD. Семинар длился 30 мин и прошел успешно. Теперь Ершов Петр занимается составлением текста диссертации.

By | 2017-06-11T10:40:12+00:00 November 11th, 2014|Конференции, Школы, Семинары, Семинары|0 Comments