Конференции, семинары, школы 2019-03-20T09:17:15+00:00

Конференции

Neutrons and Muons for Magnetism, the 2019 Advanced School of the Italian Society of Neutron Scattering (SISN) (2-6 сентября 2019, Ispra, Italy)

By | April 11th, 2019|Categories: Конференции|

Neutrons and Muons for Magnetism, the 2019 Advanced School of the Italian Society of Neutron Scattering (SISN), will be held from 2 to 6 September 2019 at the campus of the European Commission’s Joint Research Centre (JRC) in [...]

23rd JCNS Laboratory Course – Neutron Scattering 2019 (2-13 September, Jülich/Garching – Germany)

By | April 11th, 2019|Categories: Конференции|

Organized by Forschungszentrum Jülich in cooperation with RWTH Aachen Each year, the Jülich Centre for Neutron Science at Forschungszentrum Jülich, Germany, in cooperation with RWTH Aachen University (Prof. T. Brückel, Prof. S. Förster, Prof. G. [...]

Школы

The International Joint School “Smart Nanomaterials and X-ray Optics 2016: Modeling, Synthesis and Diagnostics” and The International Workshop “20 years of X-ray refractive optics: Status and Perspectives”

By | June 3rd, 2016|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Школы|

INTRODUCTION    The International Joint School "Smart Nanomaterials and X-ray Optics 2016: Modeling, Synthesis and Diagnostics" and The International Workshop "20 years of X-ray refractive optics: Status and Perspectives" for young researchers are proposed to be held in October 12-16, 2016 in Kalinigrad, [...]

Young scientists school: NANOCARBON for OPTICS and ELECTRONICS

By | June 1st, 2016|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Школы|

The variety and uniqueness of properties of carbon nanotubes, graphene and 2D materials attract a lot of attention to these materials both from fundamental scientific and technological points of view in physics, chemistry, bio-medicine and [...]

The International Joint School “Smart Nanomaterials and X-ray Optics 2015: Modeling, Synthesis and Diagnostics” (IWSN2015)

By | June 13th, 2015|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Школы|

The International Joined School-Workshop "Smart Nanomaterials and X-ray Optics 2015: Modeling, Synthesis and Diagnostics" (IWSN 2015) is organized by Southern Federal University and will take place at the Exhibition Hall of the KIBI MEDIA Center SFU, [...]

Семинары

Задачи 3-х мерного сканирования и прототипирования для медицинских и материаловедческих приложений

By | November 12th, 2014|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Семинары|

 Дата: 12 ноября 2014 г. Докладчик:  Василий Ковалев магистрант 2 года, Томского университета Тема:  "Задачи 3-х мерного сканирования и прототипирования для медицинских и материаловедческих приложений"

Семинар в Гданьском политехе посвященный представлению работы Ершова П.”High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on x-ray refractive optics”

By | November 11th, 2014|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Семинары|

Ершов Петр провел семинар в Гданьской политехнике, как начало процедуры подготовки к защите научной диссертации и получения звания PhD. Семинар длился 30 мин и прошел успешно. Теперь Ершов Петр занимается составлением текста диссертации.

Семинар по методам роста наноструктур

By | October 28th, 2014|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Семинары|

Дата: 28 октября 2014г. Докладчик  Юркевич Оксана Витальевна, старший лаборант НОЦ «Функциональные наноматериалы» Инновационного парка БФУ им. И. Канта, Тема:"Методы очистки бериллиевых изделий" Место проведения:  Научно-технологический парк "Фабрика" БФУ им. И.Канта   На семинаре был [...]

Представление диссертационной работы Ершова П.”High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on x-ray refractive optics”.

By | October 23rd, 2014|Categories: Конференции, Школы, Семинары, Семинары|

23 октября в 12.00 в 201 аудитории Научно-технологического парка БФУ им. И. Канта  будет представлена демо-версия диссертационной работы Ершова Петра Александровича  на тему "High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based [...]