Дифрактометрия 2017-06-08T09:44:59+00:00

Дифрактометрия

Метод рентгеновской дифрактометрии основан на отражении рентгеновских лучей от плоских сеток, образованных атомами в кристаллической решетке материала. В результате такого взаимодействия из падающего пучка рентгеновских лучей возникают так называемые дифрагированные лучи той же длины волны – дифракционные максимумы, характеризующиеся определенным межплоскостным расстояние и интенсивностью. Направление, т.е. угол дифракции, а также интенсивность этих лучей зависит от структуры исследуемого объекта. Явление дифракции рентгеновских лучей происходит согласно закону Брэгга-Вульфа (рисунок 1):

nλ= 2dsinθ,

где n- целое число, порядок отражения, λ – длина волны рентгеновского излучения, d  –  межплоскостное расстояние, θ – угол падения/отражения.

Дифракция плоской волны

На явлении дифракции рентгеновских лучей на атомных плоскостях основаны методики рентгенодифракционного исследования материалов, в том числе методы дифрактометрии высокого разрешения, порошковой дифрактометрии, построение карт обратного пространства, дифрактометрия высокого разрешения под скользящими углами. Эти методы позволяют определить:

  • параметры элементарной ячейки,
  • пространственную группу
  • группу симметрии кристалла
  • качественный и полуколичественный состав исследуемого образца
  • размеры кристаллитов
  • параметры элементарной ячейки
  • текстуру материала.