Дифрактометрия
Метод рентгеновской дифрактометрии основан на отражении рентгеновских лучей от плоских сеток, образованных атомами в кристаллической решетке материала. В результате такого взаимодействия из падающего пучка рентгеновских лучей возникают так называемые дифрагированные лучи той же длины волны – дифракционные максимумы, характеризующиеся определенным межплоскостным расстояние и интенсивностью. Направление, т.е. угол дифракции, а также интенсивность этих лучей зависит от структуры исследуемого объекта. Явление дифракции рентгеновских лучей происходит согласно закону Брэгга-Вульфа (рисунок 1):
nλ= 2dsinθ,
где n- целое число, порядок отражения, λ – длина волны рентгеновского излучения, d – межплоскостное расстояние, θ – угол падения/отражения.
На явлении дифракции рентгеновских лучей на атомных плоскостях основаны методики рентгенодифракционного исследования материалов, в том числе методы дифрактометрии высокого разрешения, порошковой дифрактометрии, построение карт обратного пространства, дифрактометрия высокого разрешения под скользящими углами. Эти методы позволяют определить:
- параметры элементарной ячейки,
- пространственную группу
- группу симметрии кристалла
- качественный и полуколичественный состав исследуемого образца
- размеры кристаллитов
- параметры элементарной ячейки
- текстуру материала.