О НАС
Направления
исследований
Разработка рентгеновской оптики и методов исследования для источников синхротронного излучения
Оптика формирования пучка
Для формирования рентгеновского пучка используется два класса оптических элементов. Первые, имеющие осевую симметрию, способны преобразовать точечный источник в узкий осевой отрезок — аксиконы. При когерентном рентгеновском освещении параболический аксикон генерирует пучок Бесселя, распространяющийся вдоль оптической оси и кольцевой пучок, формирующийся в дальнем поле. Такие преобразования используются в областях со специальным освещением, а также при протяженных фокусированных пучках, например, в дифракции и визуализации, метрологии и диагностике источника.
Вторые — многолинзовые интерферометры на основе преломляющей оптики. Они преобразуют падающее когерентное монохроматическое излучение в интерференционное поле, представляющее собой периодическое распределение интенсивности в пространстве. Интерферометры генерируют множество взаимно когерентных пучков, сфокусированных на некотором расстоянии. Размер фокальных пятен ограничивается лишь дифракционным пределом и может быть меньше десятков нанометров.
Оптика транспорта пучка
Здесь будет еще какой-то текст когда-нибудь про линзы и все вот это вот. Но нужно понимать, что если не будет, то текущее собрание сочинений должно минимум вызвать улыбку и заставить читать дальше. Читатель, ты настоящий красавчик. Листай дальше, там все ок. Тут еще другие страницы есть с контентом. Узнаешь чем мы занимаемся, кто мы, зачем все это, полистаешь полезные ресурсы, глянешь красивые картинки. Все делали только для тебя.
Если не понравится что-то или ошибка есть, опечатка — пиши на почту, все исправим или поспорим.
Для транспортировки пучка разрабатываются и изготавливаются автоматические системы фокусировки (трансфокаторы) на основе составных преломляющих линз из бериллия, алюминия и алмаза. Трансфокатор позволяет точно провести преколлимацию и префокусировку синхротронного излучения и доставить его в экспериментальную часть оптической схемы. За счет изменения количества линз в пучке с точностью до одной будет меняться фокусное расстояние с точностью в несколько сантиметров в широком энергетическом диапазоне.
Диагностика источника
Главным преимуществом данных методов является высокая эффективность в жестком диапазоне энергий (5-100 кэВ).
Ко второму методу относится фазовая диагностика источника с помощью щелей, дифракционных решеток, борной фибры, а также интерферометров на основе СПЛ. В интерферометрическом методе изображение формируется в виде интерференционных полос, по которым можно определить размер и степень пространственной когерентности источника, оценить расходимость генерируемого пучка СИ, а также получить фазовую структуру его волнового фронта.
Для диагностики источника используется два метода: прямой и интерферометрический. Первый позволяет сформировать прямое изображение источника при помощи составных преломляющих линз (СПЛ). Это позволяет определить размер источника, оценить его временную стабильность и получить пространственную структуру. Использование СПЛ позволяет получить увеличенное изображение источника, где параметр увеличения равен отношению расстояния от изображения до линзы к расстоянию от линзы до источника.
Микрооптика для рентгеновской микроскопии
СПЛ является хроматической оптикой, следовательно меньший радиус кривизны параболы обеспечивает меньшее фокусное расстояние, позволяя получить большую числовую апертуру, а значит и большее пространственное разрешение, приближающееся к дифракционному пределу при сохранении высокой компактности объектива. За счет своей однородности, устойчивости к высоким нагрузкам и теплопроводности для изготовления данного вида оптики используется алмаз. Для формирования нужной формы и стыковки отдельных линз применяется метод ионно-лучевой литографии.
Одиночные микролинзы имеют следующие параметры: апертура более 20 мкм, радиус менее 5 мкм, шероховатость профиля менее 100 нм, с отклонением от профиля менее 300 нм. С помощью микроманипуляторов линзы собираются в микрообъектив с разрешением менее 100 нм.
Новые методы исследований
  • Когерентная фазово-контрастная микроскопия
  • Рефлекто-интерферометрия
  • Фазово-контрастная визуализация на базе билинзового интерферометра
  • Высокоразрешающая Фурье-дифрактометрия
  • Рентгеновская томография с высоким пространственным разрешением