Система оптического контроля
Стереомикроскоп ZEISS SteREO Discovery.V20
Оптический микроскоп нового поколения ZEISS AXIO IMAGER A2M
Микроскоп нового поколения фирмы Carl Zeiss, обеспечивающий превосходные результаты исследований во всех областях применения.
Бесконтактный 3D профилометр NV-1800 Surface Profiling System
Быстрый 3D профилометр для любых типов поверхностей. NanoSystem разрабатывает аппаратные и программные решения на основе запатентованных алгоритмах и интерферометров белого света. Запатентованные методы фазового сдвига и сканирующей интерферометрии белого света (WSI/PSI) позволяют измерять широкий спектр поверхностей материалов и их параметров, включая 2D и 3D профилирование поверхности с высоким пространственным разрешением (0,1 нм – вертикальное и 0,2 мкм – латеральное разрешение).
Типичные области применения – контроль качества, инспектирование, измерения. Благодаря функциям кодирования, ключевые параметры микроскопа могут быть использованы программным обеспечением AxioVision/ZEN 2. Тип объектива и общее увеличение, тип контрастирования и настройки освещения сохраняются и при необходимости могут быть использованы повторно.
Универсальный исследовательский микроскоп по схеме Аббе, имеющий модульную конструкцию и традиционно высокое качество оптики Zeiss. SteREO Discovery.V20 – флагманская модель в линейке стереомикроскопов от Carl ZEISS, разработанная специально для проведения высокоточных многоэтапных исследований и объединяющая все современные достижения Carl ZEISS в стереомикроскопии.
Оптические компоненты дают четкое и яркое объемное изображение с оптимальной глубиной резкости и максимальным разрешением.