Оборудование Лаборатории рентгеновской оптики 2017-07-14T21:56:08+00:00

Оборудование Лаборатории рентгеновской оптики

 

Научно-образовательный многофункциональный комплекс подготовки и проведения синхротронных исследований комплекс «SynchrotronLIKE» построен по модульной схеме. Базовым элементом комплекса является сверхсовременный лабораторный микрофокусный источник рентгеновского излучения Excillium MetalJet D2 с рекордными характеристиками яркости рентгеновского излучения ~1011 фотонов/ (с*мрад2*мм2*ширину линии галлия Ka1).

Комплекс имеет 2 независимых канала вывода (аналитический и оптический) пучков рентгеновского излучения.

     Оптический канал дает возможность проводить эксперименты по проекционной рентгеновской микроскопии с разрешением до 5 мкм.

Аналитический канал дает возможность проводить эксперименты по относительной рефлектометрии, дифрактометрии и флюорисцентоному анализу. Благодаря высокой яркости источника возможно исследование границ раздела тонких пленок со слабо различимым значением плотности (менее 10%), сильно поглощающих слоев (с поглощением в 2-5 раз превышающим возможности существующих лабораторных рефлектометров). Также открывается возможность дифрактометричексих исследований микроскопических объектов (размерами от 20 мкм).

     Назначение – может использоваться для комплексного инструментального обеспечения уникального набора образовательных программ, научно-исследовательских опытно-конструкторских и технологических работ, а также метрологического обеспечения широкой номенклатуры измерений методами неразрушающего контроля.

Основные технические характеристики:

  • ускоряющее напряжение – 10-70 кВ;
  • мощность – 300 Вт;
  • минимальный фокальный размер пятна – 5 мкм;
  • максимальная яркость – 1.5∙1011 [Ph/(s∙mm2∙mrad2∙line)]
  • стабильность эмиссии – менее 1 %;
  • минимальное фокусное расстояние до объекта – 18 мм;
  • угол пучка – 13°.

Основные реализуемые методы исследования:

  • рентгеновская фазо-контрастная радиография;
  • рентгеновская топография кристаллов;
  • рентен-флюорисцентный анализ;
  • рентгеновская дифрактометрия;
  • рентгеновская рефлектометрия.

Используемая фокусирующая рентгеновская оптика:

  • Составные преломляющие линзы
  • Френелевские зонные пластинки
  • Поликапиллярные линзы

Бесконтактный 3D профилометр NV-1800 Surface Profiling System – быстрый  3D профилометр для любых типов поверхностей. Производитель NanoSystem проектирует системы для университетов, для исследований и разработок, университетов, а также для контроля технологических процессов. NanoSystem разрабатывает аппаратные и программные решения на основе запатентованных алгоритмах и интерферометров белого света. Запатентованные методы фазового сдвига и сканирующей интерферометрии белого света (WSI/PSI) позволяют измерять широкий спектр поверхностей материалов и их параметров, включая 2D и 3D профилирование поверхности с высоким пространственным разрешением (0,1 нм – вертикальное и 0,2 мкм – латеральное разрешение).

Технические характеристики

Метод измерения сканирующая интерферометрия белого света (WSI)
интерферометрия фазового сдвига (PSI)
Диапазон сканирования XY: максимум 270мкм
XY: скорость сканирования: 12мкм/сек
Разрешение Вертикальное: WSI: < 0,5нм / PSI: < 0,1нм
Латеральное: 0,2  4мкм (зависит от объектива)
Воспроизводимость измерения высоты 0.1% @ 1σ (на тестовом образце высотой 8 мкм)
Система объективов 10x: Поле зрения – 0.652×0.498 мм
Латеральное разрешение – 1,36 мм

Стереомикроскоп ZEISS SteREO Discovery.V20 –  это универсальный исследовательский микроскоп по схеме Аббе, имеющий модульную конструкцию и традиционно высокое качество оптики Zeiss. SteREO Discovery.V20 – флагманская модель в линейке стереомикроскопов от Carl ZEISS, разработанная специально для проведения высокоточных многоэтапных исследований и объединяющая все современные достижения Carl ZEISS в стереомикроскопии.

SteREO Discovery.V20

Микроскоп обеспечивает максимальный диапазон увеличений, для детального изучения образцов. Оптические компоненты дают четкое и яркое объемное изображение с оптимальной глубиной резкости и максимальным разрешением.
Прецизионная электронная система смены увеличений умеет определять точное текущее значение и восстанавливать его в любой момент с точностью более 99%. А интеллектуальная система контроля SYCOP позволяет видеть все параметры системы и оперативно их изменять: увеличение, фокусировка, яркость, метод контрастирования и т.д. – все под рукой. SteREO Discovery.V20 от Carl ZEISS – это надежная и универсальная исследовательская платформа для решения различных задач.

Технические характеристики

 Конструкция  Схема Аббе
 Базовый коэффициент трансфокации  20х
Окуляр
PI 10x/23
увеличение 10Х
линейное поле зрения 23 мм
Система объективов
ZEISS
Achromat S 0,3x FWD 236 mm
PlanApo S 1,0x FWD 60 mm
Система детектирования
AxioCam HRc
от 1388х1040 (1,3 Mpix) до 4164х3120 точек (12,9 Mpix)
6,45х6,45 мкм – размер пикселя
14 битная оцифровка спектральная чувствительность 400-700 нм
время накопления от 0,001 до 60 секунд
 Zoom-система HIP 7,5-150х (с объективом 1х и окулярами 10х)
индикация текущего увеличения, видимого поля,
разрешения, глубины изображения
Осветительная система  2х70Вт диодный осветитель, 6200K, 600лм (CL 6000 LED)
150Вт галогеновый осветитель, 3400K (CL 1500 ECO)
Методы исследования светлого поля
темного поля
наклонное освещение
поляризационный контраст
Предметный стол моторизированый XY стол с перемещением 150х100мм
Фокусировка ручной режим
Система регистрации и обработки Axio Vision/ZEN 2 поддерживаемые форматы – bmp, jpg, tif, tga, png, psd, img, cmp
нанесение аннотаций
сохранение информации о конфигурации и настройках
живая коррекция изображения: изменение контраста, яркости,
резкости, сглаживания, подавление шумов и т.д.

Оптический микроскоп нового поколения ZEISS AXIO IMAGER A2M – микроскоп нового поколения фирмы Carl Zeiss, обеспечивающий превосходные результаты исследований во всех областях применения. Штатив имеет сверхустойчивую конструкцию для высочайшей точности и воспроизводимости исследований, предназначен для работы и исследований, как в отраженном, так и проходящем свете. Оптика сверхвысокого разрешения, контраста и цветовой коррекции (IC2S оптика), скорректированная на бесконечность.

AXIO IMAGER A2M

Высокопроизводительная комплектация, которая полностью соответствует потребностям задач по контролю качества, научно-исследовательских разработок, анализу дефектов материалов, проводимых в отраженном свете. Может быть использован для задач, где не требуется моторизация процессов управления. Типичные области применения – контроль качества, инспектирование, измерения. Благодаря функциям кодирования, ключевые параметры микроскопа могут быть использованы программным обеспечением AxioVision/ZEN 2. Тип объектива и общее увеличение, тип контрастирования и настройки освещения сохраняются и при необходимости могут быть использованы повторно.
Доступны все современные методы исследования в отраженном свете: светлое и темное поле, поляризация, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК).

Технические характеристики

Окуляр
PI 10x/23
увеличение 10Х
линейное поле зрения 23 мм
встроенная шкала с градуировкой
Система объективов
ZEISS
 EC Epiplan-NEOFLUAR 5x/0,13 HD DIC ∞/0
EC Epiplan-NEOFLUAR 10x/0,25 HD DIC ∞/0
EC Epiplan-NEOFLUAR 20x/0,5 HD DIC ∞/0 LD
EC Epiplan-NEOFLUAR 50x/0,55 HD DIC ∞/0 WD 9mm
LD EC Epiplan-NEOFLUAR 100x/0,75 HD DIC ∞/0 WD 4mm
Система детектирования
AxioCam ICc 5
 2452х2452 точек (5 Mpix)
3,45х3,45 мкм – размер пикселя
12 битная оцифровка
живое изображение – 9 кадров/секунду
с разрешением 2452х2452 точек
время накопления от 0,001 до 4 секунд
Освещение 100Вт галогеновый осветитель (HAL 100)
Светофильтры  2х4 комплект нейтральных светофильтров
Светоделители
отраженного света
светлого поля
темного поля
поляризованный контраст
дифференциально-интерференцонный контраст
Анализатор  поворотный, на 3600
Предметный стол моторизированый XY стол с перемещением 75х50мм
Фокусировка ручной режим
Система регистрации
и обработки ZEN 2 Pro
поддерживаемые форматы – bmp, jpg, tif, tga, png, psd, img, cmp
нанесение аннотаций
сохранение информации о конфигурации и настройках
живая коррекция изображения: изменение контраста, яркости,
резкости, сглаживания, подавление шумов и т.д.

Система рентгеновского контроля с функцией томографии Y. CHEETAH, фирмы YXLON предназначена для осуществления неразрушающего контроля рентгеновским излучением для промышленных и научных целей. Позволяет получать 2D изображения и выполнять 3D реконструкцию для изучения внутренней структуры широкого спектра материалов. В системе установлена уникальная острофокусная рентгеновская трубка открытого типа – источник тормозного излучения с очень жестким спектром, позволяющая фокусировать пучок электронов на мишени прострельного типа фокальное пятно размером 1-2 мкм и достигать высококонтрастного изображения с разрешением 1 мкм.

Технические характеристики:

Общие:

Время до первого изображения ~ 10 s;
Время скана КТ (min.) 8 s;
Время реконструкции (min.) ~ 90 s .Доступ для загрузки образца [mm]: Автоматическая дверь (690 x 650);
Обзор: окно (520 x 370 mm)

Система манипуляции:

Область инспекции (max.) 460 mm x 410 mm (18” x 16”);
Размер образца (max.) 800 mm x 500 mm (31” x 19”);
Движение стола по осям: X, Y ;
Наклон детектора: +/-70° (140°) .

Рентгеновская трубка

Тип: Мультифокусная трубка открытого типа.
Мишень: прострельного типа.
Материал мишени: Вольфрам
Диапазон напряжения: 25–160 kV
Диапазон тока: 0.01–1.0 mA
Мощность трубки: 64 W
Мощность на мишени (max.) 10 W
Разрешение: Контроль интенсивности излучения: TXI

Благодаря своей конфигурации система подходит как для исследований на микроуровне, так и для инспекции материалов с высокой плотностью. Конструкция трубки позволяет производить замену катодов и анодов, что существенно продлевает срок ее эксплуатации. Микрофокусная рентгеновская дефектоскопия, основанная на современных томографических подходах к воспроизведению состояния внутренних частей замкнутого объема, существенно повышает достоверность результатов неразрушающего контроля.

Microfocus X-ray system Y.Cheetah

Двулучевой электронно-ионный микроскопический комплекс Carl ZEISS Crossbeam 540 – Этот флагманский комплекс компании ZEISS поставлен впервые в России и оборудован наиболее современной приставкой ELPHY Multibeam компании RAITH, позволяющей управлять электронной и ионной колонной и осуществлять прецизионную нанолитографию элементов любой сложности.

Станция  используется для высокопроизводительной нанотомографии и производства наноразмерных устройств. Комбинирование сигналов с нескольких высокоразрешающих детекторов позволяют получить максимальную информацию об образце. Станция является частью уникальной технологической среды производства элементов и устройств когерентной оптики – от прототипирования нанооптики до изготовления сложных технологических изделий с использованием точной механики и MEMS технологий. Ионная колонна с максимальным током до 100 нА и превосходной фокусировкой позволяет преодолеть разрыв между микро- и наноструктурированием.

FIB-SEM станция для высокопроизводительной нанотомографии и производства наноразмерных устройств.

Станция позволяет получать больше информации при меньшем времени подготовки образца, изготовления наноразмерных устройств и FIB-утонении. Двулучевая станция Carl ZEISS Crossbeam 540 – это объединение отличных характеристик ионной и электронной колонны при низких ускоряющих напряжениях в сочетании с током пучка до 100 нА. Комбинирование сигналов с нескольких высокоразрешающих детекторов позволяет получить максимальную информацию об образце.

Приложения:

– создание структур и модификации поверхности образца посредством ионной и электронной литографии
– химическое осаждение и оптимизация ионного травления
– реконструирование поверхности образца (3DSM)
– микро- и нанотомография – 3D реконструирование объема образца
– высококачественная пробоподготовка срезов и ламелей

Технические характеристики

Электронная колонна
(GEMINI II)
Тип катода: Шоттки
1.8 нм (1 kV)
.9 нм (15 kV)
0.7 нм (30 kV режим STEM)
10 пА ÷ 300 нА
 Ионная колонна
(Capella)
 Ресурс: 3000 мкА ·ч
< 3 нм
1 пА ÷ 100 нА
 Детекторы  SE2(ETD), Inlens SE
 Размер изображения  32 000 х 24 000 пикселей
 Предметный столик  X = 100 мм, Y = 100 мм
Z = 50 мм, Z‘ = 13 мм
T = -4° ÷ 70°, R = 360°
 Ионно-лучевая литография       Raith ELPHY Multibeam
 Система газовой химии  Pt, C, H2O, SiOX, XeF2
 Дополнительные опции  3DSM, 2 манипулятора Kleindiek

* SE2(ETD) – детектор вторичных электронов, Inlens SE – внутрилинзовый детектор вторичных электронов

Официальное видео от ZEISS

Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER фирмы Bruker AXS предназначен для прецизионного исследования материалов микро- и наноэлектроники. Позволяет проводить рентгенодифракционные исследования материалов, в том числе методами дифрактометрии высокого и низкого разрешения, построения карт обратного пространства, рефлектометрии, дифрактометрии высокого разрешения под скользящими углами, и исследования текстуры и напряжений в автоматическом режиме, с целью обеспечить:

  • фазовый и структурный анализ твердых тел (порошки, поликристаллы);
  • исследование морфологии межслойных границ в многослойных структурах, с толщинами слоев вплоть до нескольких монослоев;
  • изучение особенностей морфологии поверхности и приповерхностных слоев по глубине (от десятых долей нанометра);
  • изучение структурных превращений в твердых растворах.

Технические характеристики

Источник рентгеновского излучениязапаянная рентгеновская трубка с медным анодом мощностью 2.2 кВт.

Первичная Оптика

  • Параболическое многослойное рентгеновское зеркало (Зеркало Гёбеля) для создания квази-параллельного пучка
  • Набор коллимирующих щелей
  • 4-ёх кратный блок-монохроматор Ge(220)

Гониометр

  • Горизонтальный гониометр с минимальный шагом по углам Theta и 2Theta: 0,0001° и воспроизводимостью позиционирования углов Theta и 2Theta не хуже 0,0001°.
  • Образец крепится на подвес Эйлера, обеспечивающий три поступательные и три вращательные степени свободы
  • Вакуумный вращающийся держатель образцов диаметром 125 мм.

Вторичная Оптика

  • Блок PathFinder включающий в себя: щель, щели Соллера, кристалл-анализатор
  • Моторизированные щели

Системы детектирования

  • Позиционно-чувствительный 1-D детектор LYNXEYE с числом каналов 190.
  • Сцинтилляционный 0-D детектор

Программно-аналитические возможности

  • рентгенофазовый анализ с использованием базы порошковых данных PDF2;
  • рентгеноструктурный анализ посредством моделирования порошковых дифрактограмм, индицирование, метод Ритвельда;
  • моделирование кривых отражения и построение распределения плотности по толщине пленок;
  • анализ эпитаксиальных структур по спектрам высокого разрешения;
  • анализ полюсных фигур, оценка текстур.

Реализуемые методы исследования

  • Рентгеновская порошковая дифрактометрия
  • Рентгеновская рефлектометрия
  • Высокоразрешающая рентгеновская дифрактометрия
  • Текстурный анализ (полюсные фигуры)

The Bruker D8 Discover XRD System

Режимы работы: в проходящем и отраженном свете.

Назначение: проведение автоматизированных панорамных исследований структуры материалов с использованием многомасштабных (multi-scale) методов микроскопии. Технологической основой метода является автоматический способ получения панорамных изображений структуры материалов на макроскопической площади с микронной детализацией. Особенности: панорамное изображение структуры материала многократно превышает поле зрения микроскопа и включает неограниченное количество смежных полей зрения без видимых переходов на границах смежных полей зрения. Панорамное изображение позволяет проводить многомасштабные материаловедческие исследования путем определения связей структура-свойства-технология одновременно на масштабных уровнях макро- и микроструктуры, а также прямыми количественными измерениями микро- и макроструктурных характеристик (размеры, морфология, площади, плотность распределения структурных элементов на нескольких уровнях организации структуры) с перспективой апскейла (upscale англ.) и даунскейла (downscale англ.) свойств.

Для обеспечения производительности и быстродействия программные и аппаратные средства станции сканирования на базе Анализатора фрагментов микроструктуры твердых тел поддерживают технологию быстрой визуализации и количественного анализа больших панорамных изображений от 1Гб и более в веб-браузере с использованием пирамиды разрешений.

Использование веб-браузера для быстрой визуализации и количественного анализа панорамных изображений на удаленных рабочих местах обеспечивает многопользовательский режим без установки дополнительного программного обеспечения на удаленных рабочих местах. Формат панорамных изображений обеспечивает передачу в веб-браузер панорамного изображения с интерактивными масками выделенных объектов, маркерами, текстовыми комментариями пользователей, интерактивными инструментами для навигации и поиска объектов на панорамном изображении.

Программные и аппаратные средства станции сканирования на базе Анализатора фрагментов микроструктуры твердых тел поддерживают технологию автоматического 3D сканирования поверхности образца для получения панорамных 3D-изображений поверхности с наложением текстуры и возможностью измерения высоты объектов и шероховатости поверхности (Ra,Rz,Rmax) вдоль выбранного профиля.

Формат панорамных изображений должен обеспечивает передачу в веб-браузер панорамного 3D изображения c цветной картой высот, наложенной цветной текстурой, наложенными профилями с измеренными показателями шероховатости.

Приводы автоматического перемещения образца по X-Y и автоматической фокусировки по Z установлены на штатные механические узлы оптического микроскопа (предметный столик, механизм фокусировки).

Предметный столик комбинированного типа с возможностью смены автоматических приводов X-Y перемещения на вращающуюся коаксиальную ручку для ручного управления столиком. Ход предметного столика не менее 110мм(X)*105мм(Y).

Станция сканирования на базе Анализатора фрагментов микроструктуры твердых тел обеспечивает:

— автоматическую съемку карты всей поверхности образца;

— автоматическую съемку полей произвольной площади и количества с координатной привязкой к карте образца;

— создание сценариев автоматической съемки (последовательность, количество и размер полей на образце, направление съемки, фигура участка сканирования), получение 3D-изображений поверхности образца с наложением текстуры и возможностью измерения высоты объектов и шероховатости поверхности;

— автокоррекцию неравномерности освещенности и автофокусировку на сложных криволинейных поверхностях более, чем по 3-м точкам;

— экспресс-оценку контрастного фазового состава структуры в реальном времени при непрерывном движении образца в процессе съемки.

Технические характеристики.

Питание 220В 50Гц.

Потребляемая мощность, не более 0,2 кВт.

Габаритные размеры установки:

ширина, 320 мм;

высота, 650 мм;

глубина, 340 мм.

Вес оборудования, не более 45 кг.

Максимально возможное поле зрения оптической системы объективов, не менее 26,5 мм.

Основные контролируемые параметры и характеристики:

диапазон измерения длины     от 2000 до 0,5 мкм;

абсолютное значение среднеквадратического отклонения измерения длины              не более 1 мкм во всём диапазоне измерений;

основная относительная погрешность измерения длины         не более 0,75 % во всем диапазоне измерений;

предел допускаемого относительного среднего квадратического отклонения случайной составляющей погрешности, 0,2% (при увеличении до х500 включительно), 0,4% (при увеличении свыше х500);

пределы допускаемой относительной погрешности, ±0,25% (при увеличении до х500 включительно), ±0,65% (при увеличении свыше х500)

Комплект поставки включает:

— штатив микроскопа для проходящего и отраженного света, включая трансформатор (не менее 12V100W), коаксиальную грубую и точную фокусировку, стопор нижнего предела, ход фокусировки 25mm, точная фокусировка 100мкм вращением ручки, градуировка не более 1мкм, одна ручка точной фокусировки, вмонтированный во фронтальный порт диск управления яркостью, регулируемый пользователем фото переключатель, LED индикатор вольтажа силы света, встроенный коннектор для галогеновой лампы не менее 12V100W, включая стандартный держатель столика с встроенным держателем конденсора, встроенный LBD/ND6/ND25 фильтр, пустой фильтр диаметром 45мм, силовой кабель;

— тринокулярный тубус с углом наклона 30°, регулировка диоптрий с левой стороны, светоделительная пластина для 3 позиций (100/0, 20/80, 0/100);

—  широкопольный окуляр 10х, поле зрения 22мм;

—  широкопольный окуляр 10Х, фокусируемый, поле зрения 22мм;

—  большой механический столик с правосторонним управлением. Ход столика: не менее 110мм(X)*105мм(Y), коаксиальныйl X-Y контроль, вращаемый на 200°. Со стопорным винтом, стопорный механизм по Y оси. Максимальная нагрузка на столик 1000g, зажимные винты для платы столика. Съемная коаксиальная ручка может быть заменена на привода Smart XYZ для автоматического перемещения столика по X-Y без изменения конструкции столика;

—  комплект оборудования Smart XYZ, включая X-Y-Z приводы, установочный комплект на штатный большой механический предметный столик и механизм фокусировки, контроллер, SDK и программный интерфейс. Съемка максимальной площади металлографических образцов осуществляется путем автоматического перемещения образца по X-Y и автоматической фокусировки по Z. Управление режимами сканирования, настройка скорости, фигуры и площади сканирования должны осуществляться программным способом через встроенные автоматические средства управления и программный интерфейс ПК. Комплект ПО в составе Smart XYZ должен обеспечивать автоматическую поддержку специализированных режимов live-tiling, live-focus, live-measure;

— осветительный тубус отраженного света, светлое/темное поле, с центрируемыми полевой и апертурной диафрагмами, не менее двух слотов –  один для поляризатора и один для анализатора BF/DF переключатель с ND3 фильтром;

—  ламповый домик для галогеновой лампы не менее 100W для отраженного света;

—  револьверный держатель не менее, чем для 5-ти светло / темнопольных объективов;

—  универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 5 крат, рабочая дистанция 12 мм, числовая апертура не менее 0.15. Максимальное поле зрения не менее 5,3 мм. Подходит для работы в отраженном, проходящем свете и флуоресценции;

—  универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 10 крат, рабочая дистанция 6.5 мм, числовая апертура не менее 0.30. Максимальное поле зрения не менее 2,65мм. Подходит для работы в отраженном, проходящем свете и флуоресценции;

—  универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 20 крат, рабочая дистанция 3 мм, числовая апертура не менее 0.45. Максимальное поле зрения не менее 1,33 мм. Подходит для работы в отраженном, проходящем свете и флуоресценции;

—  универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 50 крат, рабочая дистанция 1 мм, числовая апертура не менее 0.80. Максимальное поле зрения не менее 0,53 мм. Подходит для работы в отраженном, проходящем свете и флуоресценции;

—  универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 100 крат, рабочая дистанция 1 мм, числовая апертура не менее 0.90. Максимальное поле зрения не менее 0,27 мм. Подходит для работы в отраженном, проходящем свете и флуоресценции;

—  видеоадаптер 0,5 крат с креплением C-mount  для  CCD матриц размером 1/2″ с высокой передачей ИК спектра;

—  прессик металлографический ручной ПМР;

—  цифровая микроскопная камера для панорамных приложений. Автоматическое управление каналами регистрации камеры для различения темных и ярких объектов в широком динамическом диапазоне (до 70 дБ), С-mount, CCD сенсор 1/2″, USB 2.0, высокого разрешения, частота кадров – 15 кадр./сек при разрешении 1940×1460 точек. Пониженный уровень шумов. Поддержка специализированных режимов live-tiling, live-focus, live-measure. Возможность использования для получения 3D-профиля поверхности в режиме live-focus с измерением шероховатости;

—  управляющая станция для управления сканированием образца в режимах live-tiling, live-focus, live-measure.  CPU Intel (ядер >=4), материнская плата, поддерживающая 2 слота PCI-Express 16х, ОЗУ не менее 8 ГБ, НЖМД не менее 500 ГБ, оптический CD/DVD привод, ИБП 800 ВА, монитор ЖК 23” 1920×1080 DVI/Dsub, клавиатура/мышь/сетевой фильтр/ Microsoft Windows 7 Pro x64/ прикладное для автоматического построения панорамного изображения (сканирование образца по произвольной траектории, автоматическая отстройка «купола освещенности», получение изображения максимальной площади образца, построение панорамы из видео-потока Live-Tiling в режиме непрерывного движения образца по X-Y, «живое» фокусирование с автоматическим суммированием слоев резкости Live-Focus в режиме непрерывного движения образца по Z, поддержка режима «живых» измерений объектов из видеопотока Live-Measure с одновременным преобразованием видеопотока в маску объектов);

—  ПО: инструментальная платформа для управления каналами регистрации цифровой микроскопной камеры, поверки и метрологического обеспечения оборудования, интерактивных измерений морфометрических и планиметрических характеристик микроструктуры металлографических образцов. Программная платформа для опционального усовершенствования системы путем инсталляции приложений для автоматического анализа панорамных изображений;

—  ПО: сетевая серверная платформа для организации коллективной работы, систематизации и хранения панорамных изображений, предоставления удаленного доступа к изображениям и результатам их анализа. Позволяет сохранять в едином сетевом хранилище панорамные изображения, систематизировать, проводить поиск, формировать тематические атласы для коллективного пользования. Серверное хранение и визуализация панорамных изображений  осуществляется по технологии пирамиды разрешений средствами веб-браузера на удаленных рабочих местах. Должна предоставляться возможность синхронного сетевого анализа изображения в локальной сети авторизованными пользователями, в том числе в режиме «руководитель – исполнитель». Синхронный сетевой анализ изображения включает функции: авторизацию исполнителей, одновременный доступ к изображению исполнителей и руководителя для коллективного анализа,  синхронная онлайн-визуализация результатов анализа (метки, маркеры, результаты измерений, комментарии) на рабочих местах исполнителей и руководителя. Удаленный авторизованный доступ и пользование ПО не должно требовать установки дополнительного ПО на клиентские места. Встроенные измерительные инструменты должны автоматически загружаться сервером в браузер клиентского места и применяться для измерений длины, периметров, площадей, факторов формы и проекций объектов, выделенных на панорамном изображении;

Специализированный оптический микроскоп высокого разрешения (не ниже исследовательского класса) отраженного света Olympus BX51. шт 1
Штатив микроскопа для проходящего и отраженного света, включая трансформатор (не менее 12V100W), коаксиальную грубую и точную фокусировку, стопор нижнего предела, ход фокусировки 25mm, точная фокусировка 100мкм вращением ручки, градуировка не более 1мкм, одна ручка точной фокусировки, вмонтированный во фронтальный порт диск управления яркостью, регулируемый пользователем фото переключатель, LED индикатор вольтажа силы света, встроенный коннектор для галогеновой лампы не менее 12V100W, включая стандартный держатель столика с встроенным держателем конденсора, встроенный LBD/ND6/ND25 фильтр, пустой фильтр диаметром 45мм, силовой кабель; шт 1
Тринокулярный тубус с углом наклона 30°, регулировка диоптрий с левой стороны, светоделительная пластина для 3 позиций (100/0, 20/80, 0/100); шт 1
Широкопольный окуляр 10х, поле зрения 22мм; шт 2
Механический столик с правосторонним управлением шт 1
Комплект оборудования Smart XYZ, включая X-Y-Z приводы, установочный комплект на штатный большой механический предметный столик и механизм фокусировки, контроллер, SDK и программный интерфейс шт 1
Осветительный тубус отраженного света, светлое/темное поле, с центрируемыми полевой и апертурной диафрагмами, не менее двух слотов – один для поляризатора и один для анализатора BF/DF переключатель с ND3 фильтром шт 1
Ламповый домик для галогеновой лампы не менее 100W для отраженного света шт 1
Револьверный держатель не менее, чем для 5-ти светло / темнопольных объективов шт 1
Универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 5 крат, рабочая дистанция 12 мм, числовая апертура не менее 0.15. Максимальное поле зрения не менее 5,3 мм. шт 1
Универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 10 крат, рабочая дистанция 6.5 мм, числовая апертура не менее 0.30. Максимальное поле зрения не менее 2,65мм. шт 1
Универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 20 крат, рабочая дистанция 3 мм, числовая апертура не менее 0.45. Максимальное поле зрения не менее 1,33 мм. шт 1
Универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 50 крат, рабочая дистанция 1 мм, числовая апертура не менее 0.80. Максимальное поле зрения не менее 0,53 мм. шт 1
Универсальный объектив для материаловедения светлого+темного поля. Увеличение 100 крат, рабочая дистанция 1 мм, числовая апертура не менее 0.90. Максимальное поле зрения не менее 0,27 мм. шт 1
Видеоадаптер 0,5 крат с креплением C-mount для CCD матриц размером 1/2″ с высокой передачей ИК спектра шт 1
Прессик металлографический ручной ПМР шт 1
Цифровая микроскопная камера для панорамных приложений шт 1
Управляющая станция для управления сканированием образца в режимах live-tiling, live-focus, live-measure. шт 1
Программное обеспечение (ПО) с описанием шт 1

Инновационное программное обеспечение для панорамной микроскопии. Панорамная съемка сопровождается автоматической коррекцией неравномерности освещенности и выделением объектов измерения, что позволяет предварительно оценить структуру без специальных методик анализа. SIAMS 800 позволяет строить качественные панорамные изображения путем сканирования без захвата отдельных кадров, благодаря постоянному анализу текущего видеосигнала. Это позволяет исключить дефекты панорамных изображений, приводящие к ошибкам в оценке структурных составляющих.

Режим 1: Live-Tiling

Live-Tiling – специализированный режим получения панорамных изображений при непрерывном движении образца по любой траектории. Назначение – быстрое получение изображения максимальной площади образца без эффекта “мозаики” в динамическом режиме, не требуется сшивка статичных кадров.

Съемка и анализ панорамных изображений с использованием инновационного анализатора SIAMS 800 существенно упрощает рутинную работу оператора. SIAMS 800 позволяет строить качественные панорамные изображения, благодаря постоянному анализу текущего видеосигнала.

Режим 2: Live-Focus

Live-Focus – специализированный режим получения сфокусированного изображения при непрерывном движении образца по оси Z путем автоматического суммирования слоев резкости. Назначение – быстрое получение сфокусированного изображения поверхности образца независимо от кривизны, не требуется сшивка статичных кадров.

Режим 3: Live-Z

SIAMS 800 позволяет выполнять трехмерную реконструкцию поверхности на единичных и панорамных изображениях и измерять объемные характеристики поверхности образца.

Режим 4: Live-Light

SIAMS 800 выравнивает освещенность поля при построении панорамных изображений и захвате отдельных кадров в режиме Live-Light. Настройки автокоррекции сохраняются в системе и автоматически воспроизводятся при изменении условий съемки.

Режим 5: Live-Measure

Live-Measure – специализированный режим анализа объектов на движущемся образце с динамическим наложением маски. Назначение – экспресс-анализ доли фазовых составляющих на движущемся образце.

Технология автоматической экспресс-оценки микроструктуры образца обеспечивает высокую скорость работы анализатора SIAMS 800, за счет того, что объекты анализа выделяются и контролируются в процессе съемки образца. Текущие значения отсканированной площади образца и доли фаз в процентах от общей площади непрерывно отображаются на мониторе оператора.

Размольный стакан типа “Comfort” из нержавеющей стали объемом 80 мл

Комплект мелющих шаров из нержавеющей стали диаметром 15 мм для размольного стакана типа Comfort” объемом 80 мл

Основные функциональные характеристики:

мельница осуществляет мощное и быстрое измельчение до нанодиапазона;

мельница поддерживает два режима измельчения: сухое и мокрое;

мельница имеет графический дисплей с отображением уровня подводимой энергии измельчения;

наличие ПКСД-технологии компенсации остаточной вибрации для безопасной работы без присутствия оператора;

наличие слайдера безопасности для автоматического контроля правильности крепления размольных стаканов;

наличие противовеса и встроенного датчика дисбаланса для безопасной работы;

наличие автоматической вентиляции рабочей камеры для охлаждения размольных стаканов;

наличие встроенной памяти для хранения до десяти комбинаций параметров измельчения;

наличие возможности задания времени начала измельчения для автоматического запуска мельницы без присутствия оператора;

наличие защиты от сбоев питания для сохранения оставшегося времени измельчения при нештатном отключении электроэнергии;

отображение уровня приводимой энергии измельчения;

Основные технические и технологические характеристики:

Исходный материал: мягкий, твердый, хрупкий, волокнистый (сухой или влажный);

Принцип измельчения: удар, трение;

Исходный размер частиц:  от 10 мм;

Конечная тонкость:  до  1 мкм,  для коллоидного измельчения – до  0,1 мкм;

Размер загрузки / полезный объем: макс. 1 x 220 мл, макс. 2 x 20 мл с составленными друг на друга стаканами;

Количество размольных мест:  1;

Соотношение скоростей: 1 : -2;

Скорость планетарного диска:  (100 – 650) об/мин;

Эффективный диаметр планетарного диска: не менее 141 мм;

Тип размольных стаканов: “comfort”, опционально с аэрационными крышками и зажимными устройствами;

Установка времени измельчения: цифровая, от 00:00:01 до 99:59:59;

Работа с интервалами: да, с реверсивным движением

Привод: 3-фазный асинхронный двигатель с частотным преобразователем;

Электропитание: различное, включая переменный ток на  (220-230) В, 50 Гц;

Степень защиты: IP 30;

Потребляемая мощность: не более 1500 Вт;

Габариты (Ш х В х Г)  в закрытом виде:  не более (640 x 470 x 420) мм;

Вес нетто:  не более  90 кг