Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук (ИПТМ РАН) сообщает, что с 30 мая по 3 июня 2016 года в рамках Международного форума “Техноюнити – РКЭМ 2016” будет проведена XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2016). Место проведения – г. Москва, Зеленоград.
Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт проблем технологии микроэлектроники и особочистых материалов Российской академии наук (ИПТМ РАН) сообщает, что с 30 мая по 3 июня 2016 года в рамках Международного форума “Техноюнити – РКЭМ 2016” будет проведена XXVI Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2016).
Место проведения – г. Москва, Зеленоград.
На площадках Форума будут представлены крупнейшие производители оборудования для микроэлектроники, проведена школа и научно-практические мастер-классы для студентов и молодых ученых, организованы бизнес-форумы и круглые столы по различным тематикам. Предполагается организация экскурсий на действующие предприятия г. Зеленограда.
Конференция будет посвящена вопросам развития и применения методов электронной и зондовой микроскопии в физике твердого тела, материаловедении, нанотехнологии, химии, биологии, медицине и индустрии. Программа Конференции будет включать пленарные, секционные и стендовые доклады.
| Предварительная программа форума (Подробнее см. здесь) | ||
| Программа РКЭМ-2016 (Подробнее см. здесь) | ||
| Программа 4-й Школы молодых ученых (Подробнее см. здесь) | ||
| Научная программа Конференции предусматривает следующие разделы: | ||
| I. | секция | Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая). |
| II. | секция | Электронная микроскопия в исследовании новых материалов и наноструктур. |
| III. | секция | Методы электронной дифракции в исследовании материалов. |
| IV. | секция | Растровая электронная микроскопия. |
| V. | секция | Сканирующая зондовая микроскопия. |
| VI. | секция | Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений. |
| VII. | секция | Рентгеновская оптика, рентгеновская и оптическая микроскопия. |
| VIII. | секция | Электронная и ионная литография. |
| IX. | секция | Применение методов микроскопии в физике, материаловедении, микро- и наноэлектронике. |
| X. | секция | Применение методов микроскопии в химии и геологии. |
| XI. | секция | Применение электронной, зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине. |
В Конференции примут участие студенты и аспиранты базовых кафедр МФТИ, МИСИС МГТУ им. Баумана, МИЭТ
Организаторы
- ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ ПРОБЛЕМ ТЕХНОЛОГИИ МИКРОЭЛЕКТРОНИКИ И ОСОБОЧИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ РОССИЙСКОЙ АКАДЕМИИ НАУК (ИПТМ РАН) – организатор.
- ФЕДЕРАЛЬНОЕ ГОСУДАРСТВЕННОЕ БЮДЖЕТНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ НАУКИ ИНСТИТУТ КРИСТАЛЛОГРАФИИ им. А.В. Шубникова РАН (ИК РАН), – соорганизатор. “ТЕХНО ЮНИТИ” Зеленоградский инновационный кластер – соорганизатор.
- КАЗЕННОЕ ПРЕДПРИЯТИЕ г. Москвы “Корпорация развития Зеленограда” – соорганизатор.
