Дата, время: 2 октября 2023 г., в 16.00 (по Калининградскому времени, GMT+2)
Докладчик: Мария Воеводина, лаборант-исследователь МНИЦ РО
Тема: «Рефлекто-интерферометрия для исследования тонких пленок с использованием лабораторного микрофокусного и синхротронного источников рентгеновского излучения».
Аннотация:
Доклад посвящён методу рентгеновской рефлекто-интерферометрии для исследования тонких пленок на лабораторном и синхротронном источниках рентгеновского излучения с высоким пространственным и временным разрешением. Идея данного подхода заключается в получении кривой рефлектометрии без углового сканирования тонкопленочной структуры при ее освещении сходящимся пучком монохроматического излучения. Сфокусированный рентгеновский пучок, формируемый составными преломляющими линзами, обеспечивает широкий диапазон углов расходящихся лучей, отраженных от поверхностей исследуемой структуры, достаточный для наблюдения репрезентативной части рефлекто-интерферограммы. Благодаря сфокусированному на образце пучку интерференционная картина может быть получена за один снимок с высоким пространственным и временным разрешением, что является значительным преимуществом по сравнению классическим методом рентгеновской рефлектометрии. Предложенный интерферометрический подход может быть использован в качестве чувствительного инструмента для исследования моделей клеточных мембран, всевозможных структурированных метаматериалов, неоднородных и гетерогенных образцов, а также тонких пленок сложной структуры и многослойных систем.
Запись интерференционной картины за один снимок открывает возможность быстрого анализа радиационно-нестойких материалов, включая биологические и органические структуры. Кроме того, высокое временное разрешение позволяет наблюдать динамические процессы роста пленок в режиме реального времени. Рефлекто-интерферометр был применен для in-situ исследования слоя графена расположенного на поверхности капли расплавленной меди. В результате эксперимента была получена рефлекто-интерферограмма, на основании которой удалось оценить шероховатость границы раздела сред медь/графен, толщину и плотность слоя меди и слоя графена.
