Рентгеновский параболический аксикон

Дата: 12 февраля 2020 г. Докладчик:  Зверев Д.А., научный сотрудник МНИЦ Тема: «Рентгеновский параболический аксикон» На семинаре были представлены новый тип рентгеновской преломляющей линзы – параболический аксикон, результаты исследования его оптических свойств в рамках проведенных экспериментов на станциях ID06 и ID13 Европейского Центра Синхротронного Излучения (Гренобль, Франция), а также результаты моделирования оптических схем. В ходе семинара были широко [...]

Магнитные, структурные и микромагнитные свойства сплавов Гейслера Ni-Mn-Ga с избытком никеля и галлия в системах с уменьшенной размерностью в напряженном состоянии

Дата: 5 февраля 2020 г. Докладчик:  Шевырталов С.Н., научный сотрудник МНИЦ Тема: «Магнитные, структурные и микромагнитные свойства сплавов Гейслера Ni-Mn-Ga с избытком никеля и галлия в системах с уменьшенной размерностью в напряженном состоянии» Были рассмотрены следующие темы: Влияние параметров термической обработки (температуры и времени) на структурные и магнитные свойства микропроводов; Установление раздельного и совместного влияния различных типов напряжений, возникающих в [...]

Диагностика рентгеновских преломляющих линз

Дата: 29 января 2020 г. Докладчик:  Нарикович А.С., инженер-исследователь МНИЦ Тема: «Диагностика рентгеновских преломляющих линз» В ходе семинара в первой его части состоялось часовое рабочее видеосовещание по Skype ВрИО директора Анатолия Снигирева с сотрудниками МНИЦ «РО». Во второй части семинара Нарикович Антон представил результаты работы в рамках подготовки кандидатской диссертации. Были представлены основные подходы и методики по [...]

Фрактальная геометрия в природе и науке

Дата: 22 января 2020 г. Докладчик:  Коробенков  М.В., научный сотрудник МНИЦ Тема: «Фрактальная геометрия в природе и науке» В ходе семинара в первой его части состоялось часовое рабочее совещание ВрИО директора Анатолия Снигирева с сотрудниками МНИЦ «РО». Во второй части семинара выступил научный сотрудник МНИЦ «РО» Коробенков Максим. Были рассмотрены методики определения фрактальной размерности и последующего ее применения в [...]

Чичай К

Дата: 3 декабря 2019 г. Докладчик: Чичай К., научный сотрудник МНИЦ Тема: «Скирмионы в магнитных материалах» Во второй части семинара состоялось часовое рабочее видеосовещание ВрИО директора Анатолия Снигирева с сотрудниками МНИЦ «РО».  

«Исследование радиационного фона при работе комплекса SynchrotronLike»

Дата: 29 ноября 2014 г. Докладчик:  Баранников  Александр, Бакалавр 2-ого года, факультета Радиофизика и Электроника, БФУ им. И. Канта Тема: «Исследование радиационного фона при работе комплекса SynchrotronLike»   На семинаре планируется обсуждение экспериментальных данных, полученных при помощи дозиметра "Fluke" во время радиационных испытаний комплекса "SynchrotronLike". В рамках семинара планируется обсуждение перспектив данного исследования и дальнейшего его публикования

Задачи 3-х мерного сканирования и прототипирования для медицинских и материаловедческих приложений

 Дата: 12 ноября 2014 г. Докладчик:  Василий Ковалев магистрант 2 года, Томского университета Тема:  "Задачи 3-х мерного сканирования и прототипирования для медицинских и материаловедческих приложений"

Семинар в Гданьском политехе посвященный представлению работы Ершова П.”High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on x-ray refractive optics”

Ершов Петр провел семинар в Гданьской политехнике, как начало процедуры подготовки к защите научной диссертации и получения звания PhD. Семинар длился 30 мин и прошел успешно. Теперь Ершов Петр занимается составлением текста диссертации.

Представление диссертационной работы Ершова П.”High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on x-ray refractive optics”.

23 октября в 12.00 в 201 аудитории Научно-технологического парка БФУ им. И. Канта  будет представлена демо-версия диссертационной работы Ершова Петра Александровича  на тему "High resolution x-ray diffractometry and reflectometry of semiconductor nano- and micro- structures based on x-ray refractive optics". Работа будет представлена на русском, а слайды - на англ. Место проведения:  Научно-технологический парк "Фабрика" БФУ [...]