Дата, время: 25 июня 2021 г., в 11.00
Докладчик: Крамлих Иван Владимирович , руководитель обособленного подразделения АО «Тестрон» 

Тема: «Отечественные технологии рентгеновской компьютерной томографии для решения исследовательских и прикладных задач».

Аннотация

В ходе томографического сканирования различных материалов и изделий регистрируется набор рентгеновских проекций, снятых под различными углами. Результатом реконструкции проекционных данных является трехмерная воксельная модель объекта. Для каждого элемента объема (вокселя) вычисляется интенсивность, пропорциональная линейному коэффициенту ослабления рентгеновского излучения. Эта величина пропорциональна плотности вещества и увеличивается с ростом атомного номера его компонентов. Таким образом, воксельная модель отображает форму объекта, а также изменения плотности и элементного состава в его объеме.
В докладе приведены примеры исследования внутренней структуры различных объектов исследования с применением приемов цифровой обработки, анализа объектов со сложной внутренней структурой. Показаны возможности оценки качества по физически обоснованным критериям (минимальная толщина стенки, максимальное отклонение от CAD-модели, максимальная пористость), выполнения точных измерений по изображениям сечений с автоматической привязкой к характерным точкам объекта, а также применение модулей анализа (выделение поверхности, анализ пустот и включений, анализ геометрии…).
В докладе отражены возможности детектирования рентгеновского излучения от синхротрона с применением программного обеспечения для обработки, визуализации и архивирования изображения.