Национальная молодежная научная школа для молодых ученых, аспирантов и студентов старших курсов по современным методам исследований наносистем и материалов “Синхротронные и нейтронные исследования” (“СИН-нано-2017“)
Организаторы:
НИЦ “Курчатовский институт”,
ФНИЦ “Кристаллография и фотоника” РАН,
Научно-образовательная национальная ассоциация “Исследовательские установки МЕГА-класса”
При финансовой поддержке Российского фонда фундаментальных исследований
Дата проведения: 26 июня – 07 июля 2017 года
Место проведения:
г. Москва, пл. Академика Курчатова, д.1, НИЦ “Курчатовский институт”,
г. Москва, Ленинский пр-т, д.59, Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова
Выступления сотрудников МНИЦ «Когерентная рентгеновская оптика для установок «Мегасайенс»:
- Воеводина М.А., Медведева С.С., Баранников А.А., Лятун И.И., Ершов П.А., Снигирев А.С., Снигирева И.И. «Рентгеноинтерференционные методы исследования тонких пленок на базе лабораторного комплекса synchrotronlike.» постерный доклад «Синхротронные и нейтронные исследования (СИН-нано-2017)» 26 июня – 07 июля 2017 года, г. Москва, Россия
- П. Медведская, И. Лятун М. Поликарпов, И. Снигирева, А. Снигирев «Использование метода FIB для микрообработки алмазной оптики» постерный доклад «Синхротронные и нейтронные исследования (СИН-нано-2017)» 26 июня – 07 июля 2017 года, г. Москва, Россия
- А. Нарикович, Д. Зверев, П. Ершов, И. Лятун, И. Снигирева, А. Снигирев, «Применение рентгеновской томографии на основе микрофокусного лабораторного источника для диагностики рентгеновской преломляющей оптики» постерный доклад «Синхротронные и нейтронные исследования (СИН-нано-2017)» 26 июня – 07 июля 2017 года, г. Москва, Россия
